各学院、直属系，各附属医院：

        飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）是表面分析领域不可或缺的工具，凭借高灵敏度、高分辨率及全元素检测等优势，ToF-SIMS的应用已覆盖多个前沿领域。在半导体工业中，用于表面微量污染物检测、器件失效分析以及薄膜成分与界面表征等。在材料与新能源领域，被广泛用于电池电极表面SEI膜成分分析、钙钛矿太阳能电池降解机制等研究。在生物与医学领域，ToF-SIMS可实现组织切片中药物分布成像、单细胞代谢物分析和脂质组学研究等。为使笔趣阁 实验技术人员更加深入地了解ToF-SIMS技术及应用，分析测试中心和设备与实验室管理处将联合开展ToF-SIMS技术及应用专题培训，请各有关单位根据需要组织人员参加。培训事项通知如下：

        一、培训对象：全校实验技术人员；对ToF-SIMS技术和应用感兴趣的教师和学生。

        二、培训时间：2026年7月3日上午9:30-11:30。

        三、培训内容：本次培训主要介绍飞行时间二次离子质谱的基本原理，构造，测试条件的选择，可实现的功能及在不同领域的应用。本次培训适合拟使用飞行时间二次离子质谱进行分析、并有仪器实操需求的师生及科研人员。

        四、培训方式：视频会议培训，使用“腾讯会议”软件。请各位老师和同学提前在电脑PC端或手机端下载腾讯会议软件并注册，培训开始前输入会议号：444-692-916进入会议室；同时也可通过“蔻享学术”网络直播平台进行观看，网址：//www.koushare.com/live/details/53637。

        五、报名方式：请各位感兴趣的老师、学生填写报名回执，并于2026年6月29日前将报名回执电子版发送至[email protected]，由学院统一报送。

        附件：2026年度实验技术人员专题培训报名回执

分析测试中心  设备与实验室管理处

2026年6月25日

（联系人：张老师，联系电话：020-84112199）

（学院联系人：陈老师，联系电话：020-87331472，邮箱：[email protected]）